激光衍射粒度分析儀

產(chan) 品介紹

貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個(ge) 更高的水平，升級版PIDS技術（ZL號：4953978；5104221）、優(you) 化的132枚檢測器，保證了儀(yi) 器分辨率更高，結果更準確，再現性更好。您不僅(jin) 可以測量粒徑範圍更寬的顆粒，而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間細微的差異。PIDS技術，真正實現10nm粒徑測量；新型的幹、濕進樣模塊，“即插即用"，滿足不同的分析要求，靈活便利；直觀的軟件和觸摸屏設計，大大簡化了儀(yi) 器的操作，僅(jin) 需點擊幾次便可獲得所需數據。LS 13 320 XR將為(wei) 您帶來測量的新體(ti) 驗！

貝克曼庫爾特激光衍射粒度分析儀(yi) LS 13 320 XR主要特點：

- 優(you) 於(yu) ISO 13 320技術標準。

- 符合FDA的21 CFR Part 11標準。

- 檢測器數量更多，高達132枚獨立物理位置檢測器，對應高達136個(ge) 數據通道，能夠清晰區分不同粒度等級間散射光強譜圖差異，確保不缺漏絲(si) 毫信息，快速、準確的真實粒度測量。

- 特殊設計的“X"型對數排布檢測器陣列，可以準確記錄散射光強信號，不管單峰、多峰，準確分析粒度分布。

- 全自動運算分析功能，多峰自動檢測，無需事先猜測峰型，無需選擇分析模型，提供客觀的報告。

- 升級版PIDS技術提供創新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實現10nm下限峰值測量。

- PIDS技術不僅(jin) 可以直接檢測小至10 nm的顆粒，而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。

- 納米分析功能與(yu) 微米分析功能合二為(wei) 一，功能強大，真正10nm的測量可使其作為(wei) 獨立的高分辨率納米粒度分析儀(yi) 使用。

- 新一代固體(ti) 激光光源，無需預熱，7萬(wan) 小時以上開機使用壽命 。

- 並行式信號采集與(yu) 傳(chuan) 輸，確保信號保持高信噪比、無時差、高通量。

- 多波長和偏振光分析技術令粒度分布在寬動態範圍內(nei) 的準確性分析獲得高度保障。

- 多種自動化樣品分散係統，“即插即用"，數秒即可完成切換，高效便利。

- 新一代觸摸屏設計ADAPT分析軟件，操作更直觀，無需操作經驗，簡單三步完成測量，直觀醒目的導航輪，僅(jin) 需一步實現數據顯示與(yu) 導出。

- ADAPT軟件自動對測量結果標準綠色或紅色，自動合格/不合格管理，實現直接質控。

- 軟件配有強大的光學參數數據庫，具有創新的“Zero-Time"即時光學模型係統，隻需一秒即可建立新的光學模型，提供客觀準確的分析報告。

- 儀(yi) 器配有自檢診斷功能，測試過程中隨時顯示測量情況。

貝克曼庫爾特激光衍射粒度分析儀(yi) LS 13 320 XR技術參數：

- 粒徑範圍：10納米-3500微米 （峰值）

- 主光路激光光源：光纖連接的固體(ti) 激光器

- 檢測器：132枚獨立物理角度檢測器

- 真實分析通道：136個(ge)

- 多波長測量：475nm、613nm、785nm及900nm

- 光學理論模型：全程Mie理論；Fraunhofer理論

- 準確性誤差：小於(yu) +/- 0.5%

- 重現性誤差：小於(yu) +/- 0.5%

*本產(chan) 品僅(jin) 用於(yu) 科研，不用於(yu) 臨(lin) 床診斷。