Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀(yi) 結合了背向光散射技術與(yu) 傳(chuan) 統動態光散射技術以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，擁有15°，173°、90三個(ge) 散射角度，突破了傳(chuan) 統單角度光散射儀(yi) 測量的局限性，硬件PALS技術*解決(jue) 了低電泳遷移率體(ti) 係Zeta電位的測量。

型號：OMNI

更新日期：2024-10-21

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